ICC訊 AIGC的迅猛發展推動了更高速率數據傳輸需求，受此帶動，光模塊也迅速從200G/400G向800G/1.6T升級。更高的傳輸速率意味著在更大頻率范圍內（數十GHz）的噪聲都會疊加在信號中，進一步降低了其信噪比。
  在模塊級，我們可以利用光口采樣示波器（如安立MP2110A）測量RINxOMA來評估其影響。但是該方案無法在前道工序將不良的光芯片/器件剔除，會導致良率的損失和成本的上升。安立公司針對性地推出了激光器RIN測試方案，以便在芯片和器件級就能提前分析和優化激光器/TOSA的噪聲頻譜。本次講座會對安立公司RIN測試方案做一個深入淺出的講解，希望聽眾能了解其價值并將該方案應用到研發和生產中去。

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  講座時間：

  2024年3月27日（周三）
  【15:00—15:50 演講環節】
  【15:50—16:00 問答環節】

聽講并填寫問卷有機會獲得精美禮品

（*圖片內容僅供參考，禮品以實物為主）